기계 장치 특허 등록 출원 연휴 출장 방문상담가능 무상 특허사무소"프로브 카드 구조체"

기계 장치 특허 등록 출원 연휴 출장 방문상담가능 무상 특허사무소"프로브 카드 구조체"

기계 장치 특허 등록 출원 연휴 출장 방문상담가능 무상 특허사무소"프로브 카드 구조체"

출원 연월일 : 2019년 09월 30일

출 원 번 호 : 10-2019-0120886
공고 연월일 : 2020년 01월 20일

공 고 번 호 : 
특허결정(심결)연월일 : 2019년 12월 16일 청구범위의 항수 : 7
유 별 : G01R 1/073
발명의 명칭 : 프로브 카드 구조체
존속기간(예정)만료일 : 2039년 09월 30일
2020년 01월 14일 등록

(45) 공고일자 2020년01월20일
(11) 등록번호 10-2068362
(24) 등록일자 2020년01월14일
(51) 국제특허분류(Int. Cl.)
 G01R 1/073 (2006.01) G01R 1/04 (2006.01)
 G01R 1/067 (2006.01) G01R 31/28 (2006.01)
(52) CPC특허분류
 G01R 1/07314 (2013.01)
G01R 1/0491 (2013.01)
(21) 출원번호 10-2019-0120886
(22) 출원일자 2019년09월30일
심사청구일자 2019년09월30일
(56) 선행기술조사문헌
KR1020190052853 A
(73) 특허권자
정**
경기도 오산시 운암로
(72) 발명자
정**
경기도 오산시 운암로
(74) 대리인
김영관
전체 청구항 수 : 총 7 항
(54) 발명의 명칭 프로브 카드 구조체
(57) 요 약
프로브 카드 구조체에 관한 발명이다. 본 발명의 프로브 카드 구조체는, 웨이퍼(wafer)와 테스터(tester)를 전기
적으로 연결해서 상기 웨이퍼의 전기적 특성 검사(EDS; Electrical Die Sorting)를 진행하는 프로브 카드를 포함
하며, 상기 프로브 카드는, 카드 바디; 상기 카드 바디에 착탈 가능하게 고정되며, 내부에 제1 관통홀이 형성되
는 고정 블록; 상기 제1 관통홀에 연통되는 제2 관통홀을 구비하며, 상기 고정 블록에 업/다운(up/down) 이동할
수 있게 결합하는 업/다운 블록; 상기 제1 관통홀과 상기 제2 관통홀에 배치되며, 상기 웨이퍼의 전기적 특성 검
사인 프로빙 작업(Probing Work)을 진행하는 복수의 니들; 및 상기 카드 바디 내에 마련되고 상기 복수의 니들과
연결되는 전기선을 포함한다.